Sfoglia per Serie ...IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON METROLOGY FOR EXTENDED REALITY, ARTIFICIAL INTELLIGENCE AND NEURAL ENGINEERING (METROXRAINE)
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Welcome Message from the General Chairs and Technical Program Chairs | 1-gen-2024 | Coyle, D.; Livatino, S.; Arpaia, P.; De Paolis, L. T.; Cristaldi, L.; Esposito, A.; De Benedetto, E.; Kuhl, M.; Mccreadie, K.; Tagliaferri, F.; Tagliaferri, C.; Criscuolo, S. |
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