CNR Institutional Research Information System

[object Object]

Structural and electrical characterization of silicided Ni/Au contacts formed at low temperature (<300°C) on p-type [001] silicon

Alberti A;Pellegrino G;
2011

Abstract

[object Object]
2011
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Inglese
110
12
2-s2.0-84855323108
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84855323108&partnerID=q2rCbXpz
4
info:eu-repo/semantics/article
262
Alberti, A; Badal, P; Pellegrino, G; Santangelo, A
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
01.01 Articolo in rivista
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