CNR Institutional Research Information System

An abstract is not available.

Sommario non disponibile.

A simple model to predict how many more failures will appear in testing

Bertolino A;Marchetti E
1998

Abstract

An abstract is not available.
1998
Istituto di Scienza e Tecnologie dell'Informazione "Alessandro Faedo" - ISTI
Inglese
2nd International Software Quality Week Europe
293
215
24
Sì, ma tipo non specificato
9-13 November 1998
Brussels, Belgium
Sommario non disponibile.
Bayesian approach
Defect count models
Fuctional testing
Number of expected fai
Pubblicati su CD-ROM - Codice PuMa: /cnr.iei/1998-A2-047
2
open
Bertolino, A; Marchetti, E
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
prod_409393-doc_143922.pdf

accesso aperto

Descrizione: A simple model to predict how many more failures will appear in testing
Tipologia: Versione Editoriale (PDF)
Dimensione 1.17 MB
Formato Adobe PDF
Visualizza/Apri
1.17 MB Adobe PDF Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/364132
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact