Surface plasmonresonance of Ga and In nanoparticles measured by in situ spectroscopic ellipsometry

M Losurdo;
2006

2006
Istituto di Nanotecnologia - NANOTEC
TMS 2006 Electronic Material Conference
Pennsylvania State University,
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Wu, Pc; Losurdo, M; Kim, Th; Choi, S; Everitt, Ho; Jjiang, ; Brown, As
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
7
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/88373
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact