LOLLOBRIGIDA, VALERIO
LOLLOBRIGIDA, VALERIO
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Quantifying the critical thickness of electron hybridization in spintronics materials
2017 Pincelli T.; Lollobrigida V.; Borgatti F.; Regoutz A.; Gobaut B.; Schlueter C.; Lee T.L.; Payne D.J.; Oura M.; Tamasaku K.; Petrov A.Y.; Graziosi P.; Miletto Granozio F.; Cavallini M.; Vinai G.; Ciprian R.; Backl C.H.; Rossi G.; Taguchi M.; Daimon H.; Van Der Laan G.; Panaccione G.
Role of Oxygen Deposition Pressure in the Formation of Ti Defect States in TiO2(001) Anatase Thin Films
2017 Gobaut, B; Orgiani, P; Sambri, A; Di Gennaro, E; Aruta, C; Borgatti, F; Lollobrigida, V; Ceolin, D; Rueff, Jp; Ciancio, R; Bigi, C; Das, Pk; Fujii, J; Krizmancic, D; Torelli, P; Vobornik, I; Rossi, G; Miletto Granozio, F; Scotti Di Uccio, U; Panaccione, G
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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| Quantifying the critical thickness of electron hybridization in spintronics materials | 1-gen-2017 | Pincelli T.; Lollobrigida V.; Borgatti F.; Regoutz A.; Gobaut B.; Schlueter C.; Lee T.L.; Payne D.J.; Oura M.; Tamasaku K.; Petrov A.Y.; Graziosi P.; Miletto Granozio F.; Cavallini M.; Vinai G.; Ciprian R.; Backl C.H.; Rossi G.; Taguchi M.; Daimon H.; Van Der Laan G.; Panaccione G. | |
| Role of Oxygen Deposition Pressure in the Formation of Ti Defect States in TiO2(001) Anatase Thin Films | 1-gen-2017 | Gobaut, B; Orgiani, P; Sambri, A; Di Gennaro, E; Aruta, C; Borgatti, F; Lollobrigida, V; Ceolin, D; Rueff, Jp; Ciancio, R; Bigi, C; Das, Pk; Fujii, J; Krizmancic, D; Torelli, P; Vobornik, I; Rossi, G; Miletto Granozio, F; Scotti Di Uccio, U; Panaccione, G |