CARUSO, FRANCESCO
CARUSO, FRANCESCO
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
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Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Atomic Defects Profiling and Reliability of Amorphous Al2O3Metal-Insulator-Metal Stacks | 1-gen-2022 | Torraca, P La; Caruso, F; Padovani, A; Tallarida, G; Spiga, S; Larcher, L | |
The electrons' journey in thick metal oxides | 1-gen-2022 | Caruso, F.; La Torraca, P.; Larcher, L.; Tallarida, G.; Spiga, S. |