BUSCEMA, MARZIA MARIA GAIA
BUSCEMA, MARZIA MARIA GAIA
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Growth, Electronic and Electrical Characterization of Ge-Rich Ge-Sb-Te Alloy
2022 Díaz Fattorini, A.; López García, C. Chèze.; Petrucci, C.; Bertelli, M.; Righi Riva, F.; Prili, S.; Privitera, S. M. S.; Buscema, M.; Sciuto, A.; Di Franco, S.; D'Arrigo, G.; Longo, M.; De Simone, S.; Mussi, V.; Placidi, E.; Cyrille, M. -C.; Tran, N. -P.; Calarco, R.; Arciprete, F.
Mechanical characterization and properties of continuous wave laser irradiated Ge2Sb2Te5 stripes
2021 D'Arrigo, G; Scuderi, M; Mio, A; Favarò, G; Conte, M; Sciuto, A; Buscema, M; Lidestri, G; Carria, E; Mello, D; Calabretta, M; Sitta, A; Pries, J; Rimini, E
Crystallization of nano amorphized regions in thin epitaxial layer of Ge2Sb2Te5
2020 D'Arrigo, G; Mio, ANTONIO MASSIMILIANO; Boschker, J E; Meli, A; Cecchi, S; Zallo, E; Sciuto, A; Buscema, M; Bruno, E; Calarco, R; Rimini, E
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Growth, Electronic and Electrical Characterization of Ge-Rich Ge-Sb-Te Alloy | 1-gen-2022 | Díaz Fattorini, A.; López García, C. Chèze.; Petrucci, C.; Bertelli, M.; Righi Riva, F.; Prili, S.; Privitera, S. M. S.; Buscema, M.; Sciuto, A.; Di Franco, S.; D'Arrigo, G.; Longo, M.; De Simone, S.; Mussi, V.; Placidi, E.; Cyrille, M. -C.; Tran, N. -P.; Calarco, R.; Arciprete, F. | |
Mechanical characterization and properties of continuous wave laser irradiated Ge2Sb2Te5 stripes | 1-gen-2021 | D'Arrigo, G; Scuderi, M; Mio, A; Favarò, G; Conte, M; Sciuto, A; Buscema, M; Lidestri, G; Carria, E; Mello, D; Calabretta, M; Sitta, A; Pries, J; Rimini, E | |
Crystallization of nano amorphized regions in thin epitaxial layer of Ge2Sb2Te5 | 1-gen-2020 | D'Arrigo, G; Mio, ANTONIO MASSIMILIANO; Boschker, J E; Meli, A; Cecchi, S; Zallo, E; Sciuto, A; Buscema, M; Bruno, E; Calarco, R; Rimini, E |