CASTORINA, SILVIA
CASTORINA, SILVIA
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Structural and Electrical Characterization of Ni-Based Ohmic Contacts on 4H-SiC Formed by Solid-State Laser Annealing | 1-gen-2022 | Badala, P.; Smecca, E.; Rascuna, S.; Bongiorno, C.; Carria, E.; Bassi, A.; Bellocchi, G.; Castorina, S.; Tringali, C.; La Magna, A.; Alberti, A. |