CASTORINA, SILVIA
CASTORINA, SILVIA
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Mostra
records
Risultati 1 - 1 di 1 (tempo di esecuzione: 0.004 secondi).
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Structural and Electrical Characterization of Ni-Based Ohmic Contacts on 4H-SiC Formed by Solid-State Laser Annealing | 1-gen-2022 | Badala, P.; Smecca, E.; Rascuna, S.; Bongiorno, C.; Carria, E.; Bassi, A.; Bellocchi, G.; Castorina, S.; Tringali, C.; La Magna, A.; Alberti, A. |