DI DOMIZIO, SIMONE
DI DOMIZIO, SIMONE
Istituto per i Processi Chimico-Fisici - IPCF - Sede Messina
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Measurement of the 2νββ Decay Half-Life of Se 82 with the Global CUPID-0 Background Model | 1-gen-2023 | Azzolini, O.; Beeman, J. W.; Bellini, F.; Beretta, M.; Biassoni, M.; Brofferio, C.; Bucci, C.; Capelli, S.; Caracciolo, V.; Cardani, L.; Carniti, P.; Casali, N.; Celi, E.; Chiesa, D.; Clemenza, M.; Colantoni, I.; Cremonesi, O.; Cruciani, A.; D'Addabbo, A.; Dafinei, I.; Di Domizio, S.; Dompe, V.; Fantini, G.; Ferroni, F.; Gironi, L.; Giuliani, A.; Gorla, P.; Gotti, C.; Keppel, G.; Kotila, J.; Martinez, M.; Nagorny, S. S.; Nastasi, M.; Nisi, S.; Nones, C.; Orlandi, D.; Pagnanini, L.; Pallavicini, M.; Pattavina, L.; Pavan, M.; Pessina, G.; Pettinacci, V.; Pirro, S.; Pozzi, S.; Previtali, E.; Puiu, A.; Ressa, A.; Rusconi, C.; Schaffner, K.; Tomei, C.; Vignati, M.; Zolotarova, A. S. |