ZIGNALE, MARCO

ZIGNALE, MARCO  

Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Complementary Two Dimensional Carrier Profiles of 4H-SiC MOSFETs by Scanning Spreading Resistance Microscopy and Scanning Capacitance Microscopy 1-gen-2024 Fiorenza, Patrick; Zignale, Marco; Zanetti, Edoardo; Alessandrino, Mario S.; Carbone, Beatrice; Guarnera, Alfio; Saggio, Mario; Giannazzo, Filippo; Roccaforte, Fabrizio
Electrical and Structural Properties of Ohmic Contacts of SiC Diodes Fabricated on Thin Wafers 1-gen-2024 Badalà, Paolo; Bongiorno, Corrado; Fiorenza, Patrick; Bellocchi, Gabriele; Smecca, Emanuele; Vivona, Marilena; Zignale, Marco; Massimino, Maurizio; Deretzis, Ioannis; Rascunà, Simone; Frazzica, Marcello; Boscaglia, Massimo; Roccaforte, Fabrizio; La Magna, Antonino; Alberti, Alessandra
Impact of the NO annealing duration on the SiO2/4H–SiC interface properties in lateral MOSFETs: The energetic profile of the near-interface-oxide traps 1-gen-2024 Fiorenza, Patrick; Zignale, Marco; Camalleri, Marco; Scalia, Laura; Zanetti, Edoardo; Saggio, Mario; Giannazzo, Filippo; Roccaforte, Fabrizio