FONDACCI, ALESSANDRO

FONDACCI, ALESSANDRO  

Istituto Officina dei Materiali - IOM - Sede Secondaria Perugia  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Characterization of the FBK-LGAD devices manufactured at an external foundry for large-volume productions 1-gen-2025 Lanteri, L.; Fondacci, A.; Cassese, A.; Morozzi, A.; Passeri, D.; Siviero, F.; Moscatelli, F.; Sguazzoni, G.; Paternoster, G.; Bardelli, G.; Villani, L.; Menzio, L.; Ferrero, M.; Bartolini, M.; Centis Vignali, M.; Lizzo, M.; Boscardin, M.; Cartiglia, N.; Hammad Ali, O.; Arcidiacono, R.; Croci, T.; Sola, V.; Null, Null
Characterization of thin carbonated LGADs after irradiation up to 2.5· 1015 n1 Mev eq./cm2 1-gen-2024 Mulargia, R.; Arcidiacono, R.; Borghi, G.; Boscardin, M.; Cartiglia, N.; Centis Vignalis, M.; Costa, M.; Croci, T.; Ferrero, M.; Ficorella, F.; Fondacci, A.; Giordanengo, S.; Hammad Ali, O.; Hanna, C.; Lanteri, L.; Menzio, L.; Monaco, V.; Morozzi, A.; Moscatelli, F.; Passeri, D.; Pastrone, N.; Paternoster, G.; Siviero, F.; White, R.; Sola, V.
TCAD investigation of Compensated LGAD Sensors for extreme fluence 1-gen-2024 Fondacci, A.; Croci, T.; Passeri, D.; Morozzi, A.; White, R.; Siviero, F.; Menzio, L.; Lanteri, L.; Ferrero, M.; Arcidiacono, R.; Cartiglia, N.; Boscardin, M.; Centis Vignali, M.; Paternoster, G.; Sola, V.; Moscatelli, F.
The first batch of compensated LGAD sensors 1-gen-2024 Sola, V.; Paternoster, G.; Morozzi, A.; Arcidiacono, R.; Barozzi, M.; Borghi, G.; Boscardin, M.; Cartiglia, N.; Centis Vignali, M.; Costa, M.; Croci, T.; Ferrero, M.; Fondacci, A.; Ficorella, F.; Giordanengo, S.; Hammad Ali, O.; Hanna, C.; Lanteri, L.; Menzio, L.; Moscatelli, F.; Passeri, D.; Pastrone, N.; Siviero, F.; White, R. S.
TCAD modeling of bulk radiation damage effects in silicon devices with the Perugia radiation damage model 1-gen-2022 Asenov, Patrick; Arcidiacono, Roberta; Cartiglia, Nicolo; Croci, Tommaso; Ferrero, Marco; Fondacci, Alessandro; Morozzi, Arianna; Moscatelli, Francesco; Passeri, Daniele; Sola, Valentina