FONDACCI, ALESSANDRO

FONDACCI, ALESSANDRO  

Istituto Officina dei Materiali - IOM -  

Mostra records
Risultati 1 - 4 di 4 (tempo di esecuzione: 0.011 secondi).
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Characterization of thin carbonated LGADs after irradiation up to 2.5? 1015 n1 Mev eq./cm2 1-gen-2024 Mulargia, R.; Arcidiacono, R.; Borghi, G.; Boscardin, M.; Cartiglia, N.; Centis Vignalis, M.; Costa, M.; Croci, T.; Ferrero, M.; Ficorella, F.; Fondacci, A.; Giordanengo, S.; Hammad Ali, O.; Hanna, C.; Lanteri, L.; Menzio, L.; Monaco, V.; Morozzi, A.; Moscatelli, F.; Passeri, D.; Pastrone, N.; Paternoster, G.; Siviero, F.; White, R.; Sola, V.
TCAD investigation of Compensated LGAD Sensors for extreme fluence 1-gen-2024 Fondacci, A.; Croci, T.; Passeri, D.; Morozzi, A.; White, R.; Siviero, F.; Menzio, L.; Lanteri, L.; Ferrero, M.; Arcidiacono, R.; Cartiglia, N.; Boscardin, M.; Centis Vignali, M.; Paternoster, G.; Sola, V.; Moscatelli, F.
The first batch of compensated LGAD sensors 1-gen-2024 Sola, V.; Paternoster, G.; Morozzi, A.; Arcidiacono, R.; Barozzi, M.; Borghi, G.; Boscardin, M.; Cartiglia, N.; Centis Vignali, M.; Costa, M.; Croci, T.; Ferrero, M.; Fondacci, A.; Ficorella, F.; Giordanengo, S.; Hammad Ali, O.; Hanna, C.; Lanteri, L.; Menzio, L.; Moscatelli, F.; Passeri, D.; Pastrone, N.; Siviero, F.; White, R. S.
TCAD modeling of bulk radiation damage effects in silicon devices with the Perugia radiation damage model 1-gen-2022 Asenov, Patrick; Arcidiacono, Roberta; Cartiglia, Nicolo; Croci, Tommaso; Ferrero, Marco; Fondacci, Alessandro; Morozzi, Arianna; Moscatelli, Francesco; Passeri, Daniele; Sola, Valentina