FONDACCI, ALESSANDRO
FONDACCI, ALESSANDRO
Istituto Officina dei Materiali - IOM -
Characterization of thin carbonated LGADs after irradiation up to 2.5? 1015 n1 Mev eq./cm2
2024 Mulargia, R.; Arcidiacono, R.; Borghi, G.; Boscardin, M.; Cartiglia, N.; Centis Vignalis, M.; Costa, M.; Croci, T.; Ferrero, M.; Ficorella, F.; Fondacci, A.; Giordanengo, S.; Hammad Ali, O.; Hanna, C.; Lanteri, L.; Menzio, L.; Monaco, V.; Morozzi, A.; Moscatelli, F.; Passeri, D.; Pastrone, N.; Paternoster, G.; Siviero, F.; White, R.; Sola, V.
TCAD investigation of Compensated LGAD Sensors for extreme fluence
2024 Fondacci, A.; Croci, T.; Passeri, D.; Morozzi, A.; White, R.; Siviero, F.; Menzio, L.; Lanteri, L.; Ferrero, M.; Arcidiacono, R.; Cartiglia, N.; Boscardin, M.; Centis Vignali, M.; Paternoster, G.; Sola, V.; Moscatelli, F.
The first batch of compensated LGAD sensors
2024 Sola, V.; Paternoster, G.; Morozzi, A.; Arcidiacono, R.; Barozzi, M.; Borghi, G.; Boscardin, M.; Cartiglia, N.; Centis Vignali, M.; Costa, M.; Croci, T.; Ferrero, M.; Fondacci, A.; Ficorella, F.; Giordanengo, S.; Hammad Ali, O.; Hanna, C.; Lanteri, L.; Menzio, L.; Moscatelli, F.; Passeri, D.; Pastrone, N.; Siviero, F.; White, R. S.
TCAD modeling of bulk radiation damage effects in silicon devices with the Perugia radiation damage model
2022 Asenov, Patrick; Arcidiacono, Roberta; Cartiglia, Nicolo; Croci, Tommaso; Ferrero, Marco; Fondacci, Alessandro; Morozzi, Arianna; Moscatelli, Francesco; Passeri, Daniele; Sola, Valentina
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Characterization of thin carbonated LGADs after irradiation up to 2.5? 1015 n1 Mev eq./cm2 | 1-gen-2024 | Mulargia, R.; Arcidiacono, R.; Borghi, G.; Boscardin, M.; Cartiglia, N.; Centis Vignalis, M.; Costa, M.; Croci, T.; Ferrero, M.; Ficorella, F.; Fondacci, A.; Giordanengo, S.; Hammad Ali, O.; Hanna, C.; Lanteri, L.; Menzio, L.; Monaco, V.; Morozzi, A.; Moscatelli, F.; Passeri, D.; Pastrone, N.; Paternoster, G.; Siviero, F.; White, R.; Sola, V. | |
TCAD investigation of Compensated LGAD Sensors for extreme fluence | 1-gen-2024 | Fondacci, A.; Croci, T.; Passeri, D.; Morozzi, A.; White, R.; Siviero, F.; Menzio, L.; Lanteri, L.; Ferrero, M.; Arcidiacono, R.; Cartiglia, N.; Boscardin, M.; Centis Vignali, M.; Paternoster, G.; Sola, V.; Moscatelli, F. | |
The first batch of compensated LGAD sensors | 1-gen-2024 | Sola, V.; Paternoster, G.; Morozzi, A.; Arcidiacono, R.; Barozzi, M.; Borghi, G.; Boscardin, M.; Cartiglia, N.; Centis Vignali, M.; Costa, M.; Croci, T.; Ferrero, M.; Fondacci, A.; Ficorella, F.; Giordanengo, S.; Hammad Ali, O.; Hanna, C.; Lanteri, L.; Menzio, L.; Moscatelli, F.; Passeri, D.; Pastrone, N.; Siviero, F.; White, R. S. | |
TCAD modeling of bulk radiation damage effects in silicon devices with the Perugia radiation damage model | 1-gen-2022 | Asenov, Patrick; Arcidiacono, Roberta; Cartiglia, Nicolo; Croci, Tommaso; Ferrero, Marco; Fondacci, Alessandro; Morozzi, Arianna; Moscatelli, Francesco; Passeri, Daniele; Sola, Valentina |