CASTRILLO, ANTONIO
CASTRILLO, ANTONIO
Istituto Nazionale di Ottica - INO - Sede Secondaria di Pozzuoli
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Metrology-grade sub-Doppler spectroscopy of CHF3 at 8.6 μm | 1-gen-2017 | Gambetta, A.; Vicentini, E.; Wang, Y.; Coluccelli, N.; Fernandez, T. T.; Fasci, E.; Castrillo, A.; Gianfrani, L.; Santamaria, L.; Di Sarno, V. D.; Maddaloni, P.; Laporta, P.; Galzerano, G. |