GAROFALO, ANGELA
GAROFALO, ANGELA
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Mostra
records
Risultati 1 - 1 di 1 (tempo di esecuzione: 0.003 secondi).
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Numerical Simulations of 3C-SiC High-Sensitivity Strain Meters | 1-gen-2025 | Muoio, A.; Garofalo, A.; Sapienza, S.; La Via, F. |