Sfoglia per Serie TECHNICAL DIGEST-INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING
Mostrati risultati da 1 a 2 di 2
Conductive-filament switching analysis and self-accelerated thermal dissolution model for reset in NiO-based RRAM
2007 D Ielmini, U Russo; Cagli, C; L Lacaita, A; Spiga, S; Wiemer, C; Perego, M; Fanciulli, M
A modified Schottky model for graphene-semiconductor (3D/2D) contact: A combined theoretical and experimental study
2016 Liang, Shijun; Wei, Hu; A Di Bartolomeo, ; Adam, Shaffique; Lay Kee Ang,
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Conductive-filament switching analysis and self-accelerated thermal dissolution model for reset in NiO-based RRAM | 1-gen-2007 | D Ielmini, U Russo; Cagli, C; L Lacaita, A; Spiga, S; Wiemer, C; Perego, M; Fanciulli, M | |
A modified Schottky model for graphene-semiconductor (3D/2D) contact: A combined theoretical and experimental study | 1-gen-2016 | Liang, Shijun; Wei, Hu; A Di Bartolomeo, ; Adam, Shaffique; Lay Kee Ang, |
Mostrati risultati da 1 a 2 di 2
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile