PARISSE, PIETRO
PARISSE, PIETRO
Istituto Officina dei Materiali - IOM -
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Thickness and Beyond. Exploiting Spectroscopic Ellipsometry and Atomic Force Nanolithography for the Investigation of Ultrathin Interfaces of Biologic Interest | 1-gen-2018 | Parisse, P; Solano, I; Magnozzi, M; Bisio, F; Casalis, L; Cavalleri, O; Canepa, M |