MANCUSO, ALFIO SAMUELE
MANCUSO, ALFIO SAMUELE
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Mostra
records
Risultati 1 - 3 di 3 (tempo di esecuzione: 0.003 secondi).
Defects Induced by High-Temperature Neutron Irradiation in 250 µm-Thick 4H-SiC p-n Junction Detector
2025 Mancuso, A. S.; Sangregorio, E.; Muoio, A.; De Luca, S.; Kushoro, M. H.; Gallo, E.; Vanellone, S.; Quadrivi, E.; Trotta, A.; Calcagno, L.; La Via, F.
Numerical simulations for neutron detector optimization
2025 Muoio, A.; De Luca, S.; Mancuso, A. S.; Minniti, T.; Sangregorio, E.; La Via, F.
Hydrogen Etching Process of 4H-SiC (0001) in Limited Regions
2024 Mancuso, A.; Boninelli, S.; Camarda, M.; Fiorenza, P.; Mio, A.; Scuderi, V.; Godignon, P.; Aslanidou, S.; Calcagno, L.; Via, F. L.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Defects Induced by High-Temperature Neutron Irradiation in 250 µm-Thick 4H-SiC p-n Junction Detector | 1-gen-2025 | Mancuso, A. S.; Sangregorio, E.; Muoio, A.; De Luca, S.; Kushoro, M. H.; Gallo, E.; Vanellone, S.; Quadrivi, E.; Trotta, A.; Calcagno, L.; La Via, F. | |
| Numerical simulations for neutron detector optimization | 1-gen-2025 | Muoio, A.; De Luca, S.; Mancuso, A. S.; Minniti, T.; Sangregorio, E.; La Via, F. | |
| Hydrogen Etching Process of 4H-SiC (0001) in Limited Regions | 1-gen-2024 | Mancuso, A.; Boninelli, S.; Camarda, M.; Fiorenza, P.; Mio, A.; Scuderi, V.; Godignon, P.; Aslanidou, S.; Calcagno, L.; Via, F. L. |