CARLINO, ELVIO
CARLINO, ELVIO
Istituto di Cristallografia - IC
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TEM for Characterization of Semiconductor Nanomaterials
2014 Carlino, Elvio
Coherent Diffractive Imaging - from nanometric down to picometric resolution
2012 Liberato De Caro; Elvio Carlino; Dritan Siliqi;Cinzia Giannini
Quantification of chemical distribution of guest species in a host matrix by atomic resolution STEM Z-contrast
2008 Carlino, E
STEM ed EELS ovvero Microscopia Elettronica a Scansione in Trasmissione e Spettroscopia Elettronica a perdita di Energia
2006 Carlino, E
Special issue: Proceedings of the workshop "microanalytical characterisation of semi-conducting materials and devices" - Preface
2000 Armigliato, A; Carlino, E; Catalano, M
Electron Crystallography
1992 J. W. Steeds;E. Carlino
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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TEM for Characterization of Semiconductor Nanomaterials | 1-gen-2014 | Carlino, Elvio | |
Coherent Diffractive Imaging - from nanometric down to picometric resolution | 1-gen-2012 | Liberato De Caro; Elvio Carlino; Dritan Siliqi;Cinzia Giannini | |
Quantification of chemical distribution of guest species in a host matrix by atomic resolution STEM Z-contrast | 1-gen-2008 | Carlino, E | |
STEM ed EELS ovvero Microscopia Elettronica a Scansione in Trasmissione e Spettroscopia Elettronica a perdita di Energia | 1-gen-2006 | Carlino, E | |
Special issue: Proceedings of the workshop "microanalytical characterisation of semi-conducting materials and devices" - Preface | 1-gen-2000 | Armigliato, A; Carlino, E; Catalano, M | |
Electron Crystallography | 1-gen-1992 | J. W. Steeds;E. Carlino |