NANNARONE, STEFANO
NANNARONE, STEFANO
Istituto Officina dei Materiali - IOM -
Dopamine dip-liquid overcoatings for soft X-ray reflectivity enhancement
2022 Cotroneo, V.; Rivolta, G.; Bavdaz, M.; Bruni, R.; Civitani, M. M.; Dohring, T.; Ferreira, I.; Gibertini, E.; Giglia, A.; Gollwitzer, C.; Iovenitti, S.; Krumney, M.; Magagnin, L.; Mahne, N.; Nannarone, S.; Pareschi, G.; Romaine, S.; Sethares, L.; Shortt, B.; Skroblin, D.; Sironi, G.; Spiga, D.; Tagliaferri, G.; Valsecchi, G.
Optical constants in the EUV Soft x-ray (5 ÷152 nm) spectral range of B4C thin films deposited by different deposition techniques
2006 Monaco, G.; Garoli, D.; Frison, R.; Mattarello, V.; Nicolosi, P.; Pelizzo, M. G.; Rigato, V.; Armelao, L.; Giglia, A.; Nannarone, S.
Experimental determination of E-cloud simulation input parameters for DAΦNE
2005 Mahne, N.; Giglia, A.; Nannarone, S.; Cimino, R.; Vaccarezza, C.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Dopamine dip-liquid overcoatings for soft X-ray reflectivity enhancement | 1-gen-2022 | Cotroneo, V.; Rivolta, G.; Bavdaz, M.; Bruni, R.; Civitani, M. M.; Dohring, T.; Ferreira, I.; Gibertini, E.; Giglia, A.; Gollwitzer, C.; Iovenitti, S.; Krumney, M.; Magagnin, L.; Mahne, N.; Nannarone, S.; Pareschi, G.; Romaine, S.; Sethares, L.; Shortt, B.; Skroblin, D.; Sironi, G.; Spiga, D.; Tagliaferri, G.; Valsecchi, G. | |
| Optical constants in the EUV Soft x-ray (5 ÷152 nm) spectral range of B4C thin films deposited by different deposition techniques | 1-gen-2006 | Monaco, G.; Garoli, D.; Frison, R.; Mattarello, V.; Nicolosi, P.; Pelizzo, M. G.; Rigato, V.; Armelao, L.; Giglia, A.; Nannarone, S. | |
| Experimental determination of E-cloud simulation input parameters for DAΦNE | 1-gen-2005 | Mahne, N.; Giglia, A.; Nannarone, S.; Cimino, R.; Vaccarezza, C. |