GIGLIA, ANGELO
GIGLIA, ANGELO
Istituto Officina dei Materiali - IOM -
Influence of the anion in tin-based EUV photoresists properties
2023 Evrard, Q.; Sadegh, N.; Hsu, C. C.; Mahne, N.; Giglia, A.; Nannarone, S.; Ekinci, Y.; Vockenhuber, M.; Nishimura, A.; Goya, T.; Sugioka, T.; Brouwer, A. M.
Dopamine dip-liquid overcoatings for soft X-ray reflectivity enhancement
2022 Cotroneo, V.; Rivolta, G.; Bavdaz, M.; Bruni, R.; Civitani, M. M.; Dohring, T.; Ferreira, I.; Gibertini, E.; Giglia, A.; Gollwitzer, C.; Iovenitti, S.; Krumney, M.; Magagnin, L.; Mahne, N.; Nannarone, S.; Pareschi, G.; Romaine, S.; Sethares, L.; Shortt, B.; Skroblin, D.; Sironi, G.; Spiga, D.; Tagliaferri, G.; Valsecchi, G.
Experimental efforts at LNF to reduce secondary electron yield in particle accelerators
2013 Cimino, R.; Commisso, M.; Demma, T.; Grosso, D. R.; Mahne, N.; Giglia, A.
Thermal properties, optical and interface characterization of Mg/Co multilayers for the EUV range
2011 Hu, M. -H.; Le Guen, K.; Andre, J. -M.; Jonnard, P.; Zhou, S. K.; Li, H. Ch.; Zhu, J. T.; Wang, Z. S.; Mahne, N.; Giglia, A.; Nannarone, S.
Optical constants in the EUV Soft x-ray (5 ÷152 nm) spectral range of B4C thin films deposited by different deposition techniques
2006 Monaco, G.; Garoli, D.; Frison, R.; Mattarello, V.; Nicolosi, P.; Pelizzo, M. G.; Rigato, V.; Armelao, L.; Giglia, A.; Nannarone, S.
Experimental determination of E-cloud simulation input parameters for DAΦNE
2005 Mahne, N.; Giglia, A.; Nannarone, S.; Cimino, R.; Vaccarezza, C.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Influence of the anion in tin-based EUV photoresists properties | 1-gen-2023 | Evrard, Q.; Sadegh, N.; Hsu, C. C.; Mahne, N.; Giglia, A.; Nannarone, S.; Ekinci, Y.; Vockenhuber, M.; Nishimura, A.; Goya, T.; Sugioka, T.; Brouwer, A. M. | |
| Dopamine dip-liquid overcoatings for soft X-ray reflectivity enhancement | 1-gen-2022 | Cotroneo, V.; Rivolta, G.; Bavdaz, M.; Bruni, R.; Civitani, M. M.; Dohring, T.; Ferreira, I.; Gibertini, E.; Giglia, A.; Gollwitzer, C.; Iovenitti, S.; Krumney, M.; Magagnin, L.; Mahne, N.; Nannarone, S.; Pareschi, G.; Romaine, S.; Sethares, L.; Shortt, B.; Skroblin, D.; Sironi, G.; Spiga, D.; Tagliaferri, G.; Valsecchi, G. | |
| Experimental efforts at LNF to reduce secondary electron yield in particle accelerators | 1-gen-2013 | Cimino, R.; Commisso, M.; Demma, T.; Grosso, D. R.; Mahne, N.; Giglia, A. | |
| Thermal properties, optical and interface characterization of Mg/Co multilayers for the EUV range | 1-gen-2011 | Hu, M. -H.; Le Guen, K.; Andre, J. -M.; Jonnard, P.; Zhou, S. K.; Li, H. Ch.; Zhu, J. T.; Wang, Z. S.; Mahne, N.; Giglia, A.; Nannarone, S. | |
| Optical constants in the EUV Soft x-ray (5 ÷152 nm) spectral range of B4C thin films deposited by different deposition techniques | 1-gen-2006 | Monaco, G.; Garoli, D.; Frison, R.; Mattarello, V.; Nicolosi, P.; Pelizzo, M. G.; Rigato, V.; Armelao, L.; Giglia, A.; Nannarone, S. | |
| Experimental determination of E-cloud simulation input parameters for DAΦNE | 1-gen-2005 | Mahne, N.; Giglia, A.; Nannarone, S.; Cimino, R.; Vaccarezza, C. |