PELIZZO, MARIA GUGLIELMINA
PELIZZO, MARIA GUGLIELMINA
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
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Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Optical constants in the EUV Soft x-ray (5 ÷152 nm) spectral range of B4C thin films deposited by different deposition techniques | 1-gen-2006 | Monaco, G.; Garoli, D.; Frison, R.; Mattarello, V.; Nicolosi, P.; Pelizzo, M. G.; Rigato, V.; Armelao, L.; Giglia, A.; Nannarone, S. |