ALTAMURA, DAVIDE
ALTAMURA, DAVIDE
Istituto di Cristallografia - IC
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Nanomaterials Characterization by X-ray techniques | 1-gen-2014 | C. Giannini; D. Siliqi; Altamura | |
| Lens-less scanning X-raymicroscopy with SAXS and WAXS contrast | 1-gen-2013 | Giannini, Cinzia; Altamura, Davide; Aresta, Brunella Maria; Sibillano, Teresa; Siliqi, Dritan; De Caro, Liberato |