Fabrication method at micrometer- and nanometer-scales for generation and control of anisotropy of structural, electrical, optical and optoelectronic properties in thin films of conjugated materials"

M MURGIA;P MEI;F BISCARINI;C TALIANI
2001

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/116721
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