CNR Institutional Research Information System

Fabrication method at micrometer- and nanometer-scales for generation and control of anisotropy of structural, electrical, optical and optoelectronic properties in thin films of conjugated materials"

M MURGIA;P MEI;F BISCARINI;C TALIANI
2001
2001
Italiano
Inglese
PRIORITA'ITALIA MI2001A002075 del 08/10/01 CONVALIDA PCT/EP 02/11218 del 07/10/02 EUROPADOMANDA NR. 02800604.7 del 07/10/02 CINADOMANDA NR. 02819781.X del 07/10/02 CINACONCESSIONE NR. ZL 02819781.X del 18/02/09 U.S.A.DOMANDA NR. 10/490,679 del 25/03/04 GIAPPONE DOMANDA NR. 2003-53417 TITOLARI:CNR INVENTORI : M. MURGIA, P .MEI, F. BISCARINI, C. TALIANI DOMANDA ORIGINALE: BREVETTO ITALIANO INVENZIONE INDUSTRIALE
4
06 Brevetti::06.01 Brevetto di invenzione industriale
none
Murgia, M; Mei, P; Biscarini, F; Taliani, C
info:eu-repo/semantics/patent
285
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/116721
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