CNR Institutional Research Information System

Interferometric system for the simultaneous measurement of the index of refraction and of the thickness of transparent materials and related procedures

Sergio De Nicola;Giuseppe Coppola;Pietro Ferraro;Mario Iodice
2003
2003
Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti "Eduardo Caianiello" - ISASI
Laser
Ottica
interferometria
indicedi rifrazione
analisi di frange
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/130529
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact