In occasione del trasferimento in un nuovo laboratorio, le apparecchiature di spettrometria di massa di ioni secondari già presenti presso lo IENI sono state completamente riconfigurate. La razionalizzazione, peraltro avvenuta con un modesto investimento, ha consentito di migliorare notevolmente la produttività e le prestazioni dello strumento ricondizionato. L'introduzione dei campioni nella camera di analisi è ora completamente assistita da microprocessore, lo stesso che sovrintende alla gestione del sistema da vuoto e controlla lo stato dei vari allarmi. Ciò ha consentito di aumentare notevolmente la sicurezza e la resistenza ad eventi fortuiti (interruzioni di energia per tempi prolungati, sovratensioni nell'impianto, ecc.). Altre migliorie sono state apportate al software di gestione della misura e all'hardware relativo. I livelli di vuoto finale raggiunti con la nuova configurazione sono migliorati di una decade, garantendo un ottimo rapporto segnale disturbo.

Riconfigurazione e automazione spettrometro di massa SIMS - ISS

Pagura C;Barison;
2003

Abstract

In occasione del trasferimento in un nuovo laboratorio, le apparecchiature di spettrometria di massa di ioni secondari già presenti presso lo IENI sono state completamente riconfigurate. La razionalizzazione, peraltro avvenuta con un modesto investimento, ha consentito di migliorare notevolmente la produttività e le prestazioni dello strumento ricondizionato. L'introduzione dei campioni nella camera di analisi è ora completamente assistita da microprocessore, lo stesso che sovrintende alla gestione del sistema da vuoto e controlla lo stato dei vari allarmi. Ciò ha consentito di aumentare notevolmente la sicurezza e la resistenza ad eventi fortuiti (interruzioni di energia per tempi prolungati, sovratensioni nell'impianto, ecc.). Altre migliorie sono state apportate al software di gestione della misura e all'hardware relativo. I livelli di vuoto finale raggiunti con la nuova configurazione sono migliorati di una decade, garantendo un ottimo rapporto segnale disturbo.
2003
Istituto di Chimica della Materia Condensata e di Tecnologie per l'Energia - ICMATE
spettrometria
massa
analisi superficiale
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/147991
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact