Ispezioni di materiali dielettrici mediante campo elettrico e campo elettromagnetico

The paper reports the experimental results obtained using two sensors, a planar resonating antenna and a co-planar capacitor, driven by the system for Non Destructive Test realized in the Institute. The sensors are aimed to inspect dielectric materials, since the near electromagnetic field produced by the antenna and the electric field of the capacitor are influenced by the permittivity of the inspected materials, so that information about the material's structure can by obtained analyzing the sensor responses. Using the described sensors, the system is able to examine materials whose permittivity ranges from 1 to at least 10; the system can reveal structural surface or proximal variations.

Il lavoro riporta i risultati di una sperimentazione rivolta a stimare le prestazioni ottenibili con due tipi di sensori pilotati dal sistema per ispezioni non distruttive, realizzato presso l'Istituto. I due sensori esaminati sono costituiti rispettivamente da un'antenna risonante planare e da un condensatore complanare, adatti all'ispezione di materiali dielettrici. Il campo elettromagnetico vicino prodotto dall'antenna ed il campo elettrico prodotto dal condensatore interagiscono col materiale esaminato, in modo che la risposta dei sensori, dipendente dalla permittività del materiale con cui essi sono posti a contatto, può fornire informazioni sulla struttura del materiale. Grazie all'impiego di questi sensori, il sistema è in grado di esaminare materiali con permittività in un intervallo da 1 ad almeno 10; il sistema è in grado di rivelare differenze della struttura superficiale o prossimale di tali materiali.