L’impiego in situ di sistemi portatili XRF nel settore dei Beni Culturali è oggi largamente diffuso. A volte, i tubi a raggi X impiegati come sorgenti di eccitazione non producono fasci X stabili; una variazione non controllata nelle proprietà del fascio, induce errori nella determinazione delle concentrazioni degli elementi contenuti nei campioni in studio. Nell’ambito del progetto Agenzia 2000 del CNR è stato progettato e realizzato un nuovo spettrometro XRF (il sistema BSC-XRF) dotato di un controllo di stabilità dell’energia e dell’intensità del fascio emesso da un tubo a raggi X. Il controllo non viene effettuato da un sistema elettronico ma viene ottenuto mediante un intervento diretto sul fascio X emesso dal tubo. Il metodo proposto, permette un controllo delle stabilità entro l’1%. Il sistema BSC-XRF è particolarmente indicato per l’analisi di elementi in traccia presenti in manufatti in ossidiana e di ceramica fine e degli elementi caratterizzanti leghe metalliche antiche.

Un sistema portatile per analisi non distruttive nel settore dei Beni Culturali: il nuovo spettrometro XRF (il sistema BSC-XRF) dotato di un controllo di stabilità.

Romano FP;Garraffo S;Pappalardo;
2003

Abstract

L’impiego in situ di sistemi portatili XRF nel settore dei Beni Culturali è oggi largamente diffuso. A volte, i tubi a raggi X impiegati come sorgenti di eccitazione non producono fasci X stabili; una variazione non controllata nelle proprietà del fascio, induce errori nella determinazione delle concentrazioni degli elementi contenuti nei campioni in studio. Nell’ambito del progetto Agenzia 2000 del CNR è stato progettato e realizzato un nuovo spettrometro XRF (il sistema BSC-XRF) dotato di un controllo di stabilità dell’energia e dell’intensità del fascio emesso da un tubo a raggi X. Il controllo non viene effettuato da un sistema elettronico ma viene ottenuto mediante un intervento diretto sul fascio X emesso dal tubo. Il metodo proposto, permette un controllo delle stabilità entro l’1%. Il sistema BSC-XRF è particolarmente indicato per l’analisi di elementi in traccia presenti in manufatti in ossidiana e di ceramica fine e degli elementi caratterizzanti leghe metalliche antiche.
2003
Istituto per i Beni Archeologici e Monumentali - IBAM - Sede Catania
Istituto di Scienze del Patrimonio Culturale - ISPC
XRF e tubi X
controllo stabilità
tubi X
portatile
archeometria
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/186168
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