Diagnostiche di scattering Thomson per RFX

Il prodotto di ricerca qui descritto consiste nel progetto del sistema diagnostico di Scattering Thomson per RFX. La tecnica di misura consiste nell’ illuminare il plasma con un impulso laser e nell’analizzare lo spettro della radiazione diffusa dagli elettroni, dal quale si ricavano la temperatura (Te) e la densita’ (ne) degli elettroni stessi. Il sistema attualmente in fase di realizzazione permettera’ di disporre di una diagnostica di elevata accuratezza e risoluzione sia spaziale che temporale. Il sistema campiona il profilo della colonna di plasma con 84 punti ed una risoluzione di 6 mm. Esso utilizza un laser Nd:YLF che produce una serie di 10 impulsi separati di 20 msec, ciascuno con energia circa 5 J. L’apparato di rivelazione consiste di 28 spettrometri interamente progettati e costruiti presso il Consorzio RFX. Ogni spettrografo campiona lo spettro con tre o quattro canali utilizzando filtri interferenziali e fotodiodi a valanga. L’acquisizione viene effettuata da schede ADC che registrano l’evoluzione temporale dell’impulso di radiazione diffuso. Questo approccio e’ stato per la prima volta introdotto da RFX su un sistema di scattering Thomson multipunti in sostituzione del metodo piu’ tradizionale di registrare la carica integrata ed aumenta significativamente l’attendibilita’ della misura. Un’altra caratteristica innovativa del sistema e’ l’uso di linee di ritardo su fibra ottica per triplicare il numero di punti campionati, con notevole vantaggio economico.