Si è realizzato il prototipo di uno spettrometro XRF portatile di sensibilità molto elevata rispetto agli strumenti analoghi disponibili sul mercato; lo strumento è ottimizzato per lo studio dei materiali metallici e consente l'eccitazione efficiente e la rivelazione delle righe K di elementi intermedi come Ag, Sn e Sb

Spettrometro portatile per analisi di fluorescenza X

M Ferretti
2001

Abstract

Si è realizzato il prototipo di uno spettrometro XRF portatile di sensibilità molto elevata rispetto agli strumenti analoghi disponibili sul mercato; lo strumento è ottimizzato per lo studio dei materiali metallici e consente l'eccitazione efficiente e la rivelazione delle righe K di elementi intermedi come Ag, Sn e Sb
2001
Istituto per le Tecnologie Applicate ai Beni Culturali - ITABC - Sede Montelibretti
Istituto di Scienze del Patrimonio Culturale - ISPC
Fluorescenza a raggi X non-distruttiva
strumenti portatili
metalli
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/191797
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