Sistema di imaging a contatto in trasmissione basato su una sorgente laser plasma a raggi X con rivelazione in fluorescenza costituita da un cristallo di fluoruro di litio, per applicazioni all’analisi dello spessore (decine di nanometri) e della composizione chimica di film sottili

Sistema di imaging a contatto in trasmissione basato su una sorgente laser plasma a raggi X con rivelazione in fluorescenza, per applicazioni all analisi dello spessore e della composizione chimica di film sottili

S Stagira;C D'Andrea;G Valentini;P Villoresi;M Nisoli;S De Silvestri
2006

Abstract

Sistema di imaging a contatto in trasmissione basato su una sorgente laser plasma a raggi X con rivelazione in fluorescenza costituita da un cristallo di fluoruro di litio, per applicazioni all’analisi dello spessore (decine di nanometri) e della composizione chimica di film sottili
2006
INFM
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/193729
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