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?Procedimento per il conferimento e controllo su scale micro- e nanometriche dell?anisotropia di proprietà strutturali, elettriche, ottiche, ed optoelettroniche, in film sottili di materiali coniugati?,

M Murgia;P Mei;C Taliani;
2001
2001
Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati - ISMN
nanotecnology
fabrication
nanoimprinting
thin-films
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/194443
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