Microscopio laser a scansione a bassa temperatura (LTLSM). Lo strumento permette di indirizzare stimoli ottici, di durata da 1 ns in su e lunghezza d'onda da 670 a 1550 nm, su dispositivi mantenuti a temperatura da 2 a 300 K. Un sistema motorizzato di scansione permette di indirizzare lo spot ottico (di diametro inferiore a 10 micrometri) sulla superficie da analizzare (10x10 mm) con una risoluzione di 5 micrometri. La presenza di una videocamera coassiale con il fascio laser permette di visualizzare con elevata risoluzione la superficie irraggiata. Connessioni elettriche a larga banda (1GHz) tra la parte criogenica e l'elettronica di lettura esterna permettono di studiare la fotorisposta veloce dei dispositivi studiati.
Sistema di scansione laser per caratterizzazione a bassa temperatura dispositivi elettro-ottici
S Pagano
2002
Abstract
Microscopio laser a scansione a bassa temperatura (LTLSM). Lo strumento permette di indirizzare stimoli ottici, di durata da 1 ns in su e lunghezza d'onda da 670 a 1550 nm, su dispositivi mantenuti a temperatura da 2 a 300 K. Un sistema motorizzato di scansione permette di indirizzare lo spot ottico (di diametro inferiore a 10 micrometri) sulla superficie da analizzare (10x10 mm) con una risoluzione di 5 micrometri. La presenza di una videocamera coassiale con il fascio laser permette di visualizzare con elevata risoluzione la superficie irraggiata. Connessioni elettriche a larga banda (1GHz) tra la parte criogenica e l'elettronica di lettura esterna permettono di studiare la fotorisposta veloce dei dispositivi studiati.I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
