Il sistema criogenico di scansione laser è uno strumento per la caratterizzazione di dispositivi elettro-ottici, da 3K alla temperatura ambiente. Il sistema è interamente montato su banco ottico antivibrante ed è composto da un criostato a flusso continuo di elio dove il dispositivo è mantenuto ad una temperatura controllata. Un sistema ottico consente di illuminare i dispositivi utilizzando varie sorgenti laser con fascio focalizzato in spot di 0.01mm di diametro. E possibile controllare lintensità, la polarizzazione e la posizione del fascio laser su un area di 10x10mm2 con precisione di 10micron. Una telecamera visualizza il dispositivo e lo spot laser durante i test e ne controlla lallineamento. I laser a disposizione sono da 850 nm con impulsi >1ns e da 1550nm con impulsi >6ns (questultimo in comodato duso dalla Pirelli Labs). Il sistema consente inoltre di utilizzare sorgenti radioattive di calibrazione per la caratterizzazione sotto radiazione a raggi X di 6keV (sorgenti di 55Fe, attività 1 o 10MBq). Connessioni elettriche a larga banda (DC-1GHz) tra la il dispositivo e l'elettronica di lettura esterna permettono di misurare fenomeni relativamente veloci nei dispositivi studiati. Lo strumento si è dimostrato utile nello studio di rivelatori di singoli fotoni infrarossi, basati su nanofili superconduttivi, per applicazioni in telecomunicazioni. Il sistema è un upgrade di una precedente versione denominata Microscopio laser a scansione a bassa temperatura.
Sistema criogenico di scansione laser
Mikkel Ejrnaes;Sergio Pagano;Roberto Cristiano
2007
Abstract
Il sistema criogenico di scansione laser è uno strumento per la caratterizzazione di dispositivi elettro-ottici, da 3K alla temperatura ambiente. Il sistema è interamente montato su banco ottico antivibrante ed è composto da un criostato a flusso continuo di elio dove il dispositivo è mantenuto ad una temperatura controllata. Un sistema ottico consente di illuminare i dispositivi utilizzando varie sorgenti laser con fascio focalizzato in spot di 0.01mm di diametro. E possibile controllare lintensità, la polarizzazione e la posizione del fascio laser su un area di 10x10mm2 con precisione di 10micron. Una telecamera visualizza il dispositivo e lo spot laser durante i test e ne controlla lallineamento. I laser a disposizione sono da 850 nm con impulsi >1ns e da 1550nm con impulsi >6ns (questultimo in comodato duso dalla Pirelli Labs). Il sistema consente inoltre di utilizzare sorgenti radioattive di calibrazione per la caratterizzazione sotto radiazione a raggi X di 6keV (sorgenti di 55Fe, attività 1 o 10MBq). Connessioni elettriche a larga banda (DC-1GHz) tra la il dispositivo e l'elettronica di lettura esterna permettono di misurare fenomeni relativamente veloci nei dispositivi studiati. Lo strumento si è dimostrato utile nello studio di rivelatori di singoli fotoni infrarossi, basati su nanofili superconduttivi, per applicazioni in telecomunicazioni. Il sistema è un upgrade di una precedente versione denominata Microscopio laser a scansione a bassa temperatura.I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
