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Impiego delle misure XRF per la determinazione degli spessori di stesure pittoriche: valutazione del metodo su casi di laboratorio Università degli Studi di Milano-facolta Scienze Matematiche Fisiche e Naturali-Laurea Fisica--a.acc.209-2010.

2010
2010
Istituto per la Conservazione e la Valorizzazione dei Beni Culturali - ICVBC - Sede Sesto Fiorentino
Istituto di Scienze del Patrimonio Culturale - ISPC
05.12 Altro
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