Misura della riflettenza di deposizioni di Si su substrato di vetro per un angolo di incidenza di 25° rispetto alla normale mediante lo spettrofotometro Perkin-Elmer Lambda900.
Rapporto 3F-RT12011 Misura riflettanza deposizioni di silicio
Fontani D;Francini F;Jafrancesco D;Marconi L;Meucci M;Mercatelli L;Sani E;Sansoni P
2012
Abstract
Misura della riflettenza di deposizioni di Si su substrato di vetro per un angolo di incidenza di 25° rispetto alla normale mediante lo spettrofotometro Perkin-Elmer Lambda900.File in questo prodotto:
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