Analisi degli elementi presenti in tappini e ampolle appartenenti a due diverse forniture, codificate come nuova e vecchia. L'analisi dei materiali è stata effettuata con un microscopio elettronico a scansione SEM ZEISS EVO 50 XVP equipaggiato con rivelatori per la raccolta di elettroni secondari, retrodiffusi e raggi X emessi dal campione (EDS). Questi ultimi consentono di identificare gli elementi presenti nei materiali. Per ciascuna fornitura sono stati esaminati il tappino, l'ampolla, la guarnizione e il tappino senza la guarnizione. L'ampolla è stata frantumata al fine di identificarne la composizione nella parte costitutiva del materiale. I campioni sono stati rivestiti con 15 nm di oro per renderli elettricamente conduttivi
Rapporto tecnico analisi EDS su tappini e ampolle forniti dal Committente
Maria Giulia Faga
2014
Abstract
Analisi degli elementi presenti in tappini e ampolle appartenenti a due diverse forniture, codificate come nuova e vecchia. L'analisi dei materiali è stata effettuata con un microscopio elettronico a scansione SEM ZEISS EVO 50 XVP equipaggiato con rivelatori per la raccolta di elettroni secondari, retrodiffusi e raggi X emessi dal campione (EDS). Questi ultimi consentono di identificare gli elementi presenti nei materiali. Per ciascuna fornitura sono stati esaminati il tappino, l'ampolla, la guarnizione e il tappino senza la guarnizione. L'ampolla è stata frantumata al fine di identificarne la composizione nella parte costitutiva del materiale. I campioni sono stati rivestiti con 15 nm di oro per renderli elettricamente conduttiviI documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
