La fluorescenza dei raggi X in dispersione di energia (ED-XRF) è una tecnica non invasiva che consente di identificare gli elementi presenti in un campione. Le analisi sono state eseguite con uno strumento portatile consistente in una sorgente di raggi X EIS con anodo di tungsteno, un rivelatore Silicon drift raffreddato Peltier completo del suo amplificatore-alimentatore e della scheda multicanale .
Analisi mediante fluorescenza X a dispersione di energia su reperti dalle necropoli di Crustumerium e del suo circondario
Ombretta Tarquini;Augusto Pifferi
2014
Abstract
La fluorescenza dei raggi X in dispersione di energia (ED-XRF) è una tecnica non invasiva che consente di identificare gli elementi presenti in un campione. Le analisi sono state eseguite con uno strumento portatile consistente in una sorgente di raggi X EIS con anodo di tungsteno, un rivelatore Silicon drift raffreddato Peltier completo del suo amplificatore-alimentatore e della scheda multicanale .File in questo prodotto:
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