Durante la caratterizzazione degli inchiostri per alluminio, Aurel ha riscontrato alcune anomalie connesse con l'utilizzo di inchiostri Du Pont. In particolare i trattamenti normalmente utilizzati su piastre sottili in alluminio non sembrano essere direttamente trasferibili ad altre tipologie di substrati. La deposizione infatti su elementi riscaldanti e dissipatori produce strati di adesione e dielettrici con diverse caratteristiche sia fisiche (differente colorazione) che prestazionali. Obiettivo dell'attività è quindi la caratterizzazione chimica qualitativa mediante analisi SEM-EDS dei supporti in alluminio serigrafati utilizzati da AUREL.
RT-2012-132 CARATTERIZZAZIONE DI SUBSTRATI IN ALLUMINIO PER APPLICAZIONI FOTOVOLTAICHE A CONCENTRAZIONE
E Mercadelli;A Sanson
2012
Abstract
Durante la caratterizzazione degli inchiostri per alluminio, Aurel ha riscontrato alcune anomalie connesse con l'utilizzo di inchiostri Du Pont. In particolare i trattamenti normalmente utilizzati su piastre sottili in alluminio non sembrano essere direttamente trasferibili ad altre tipologie di substrati. La deposizione infatti su elementi riscaldanti e dissipatori produce strati di adesione e dielettrici con diverse caratteristiche sia fisiche (differente colorazione) che prestazionali. Obiettivo dell'attività è quindi la caratterizzazione chimica qualitativa mediante analisi SEM-EDS dei supporti in alluminio serigrafati utilizzati da AUREL.I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
