E' stata verificata la possibilità di depositare layer di SiO2 via rapid-ALD, a basse temperature e compatibili con i manufatti da rivestire. L'introduzione di un buffer-layer di TiO2 da interporre tra il substrato e la silice potrà favorire l'aggraffaggio del catalizzatore di Al in modo omogeneo su tutta la superficie del substrato grazie alla presenza dei siti -OH della TiO2; inoltre l'effetto indotto da esposizione alla radiazione UV tra un layer e l'altro di SiO2 potrebbe indurre un consolidamento della fase depositata prima della successiva crescita della silice.

Continuazione dello svolgimento dell'attività di ricerca dal titolo "Protezione di leghe metalliche mediante deposizione ALD di film sottili a matrice ossidica a basso indice di rifrazione".

Gerbasi Rosalba;El Habra Naida
2016

Abstract

E' stata verificata la possibilità di depositare layer di SiO2 via rapid-ALD, a basse temperature e compatibili con i manufatti da rivestire. L'introduzione di un buffer-layer di TiO2 da interporre tra il substrato e la silice potrà favorire l'aggraffaggio del catalizzatore di Al in modo omogeneo su tutta la superficie del substrato grazie alla presenza dei siti -OH della TiO2; inoltre l'effetto indotto da esposizione alla radiazione UV tra un layer e l'altro di SiO2 potrebbe indurre un consolidamento della fase depositata prima della successiva crescita della silice.
2016
Istituto di Chimica della Materia Condensata e di Tecnologie per l'Energia - ICMATE
Ald
silice
film protettivi
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/330801
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