Nella presente nota si riportano alcuni risultati, ottenuti per simulazione al calcolatore, relativi alle prestazioni ottenibili impiegando la tecnica descritta in [1] per il rilievo di inclusioni all'interno di laminati e profilati al variare delle dimensioni geometriche di queste e del rapporto di riflettività fra inclusione stessa e mezzo circostante.
La tomografia corrente a microonde per il rilievo di 'inclusioni' all'interno di laminati e profilati in materiali compositi
Salerno E
1986
Abstract
Nella presente nota si riportano alcuni risultati, ottenuti per simulazione al calcolatore, relativi alle prestazioni ottenibili impiegando la tecnica descritta in [1] per il rilievo di inclusioni all'interno di laminati e profilati al variare delle dimensioni geometriche di queste e del rapporto di riflettività fra inclusione stessa e mezzo circostante.File in questo prodotto:
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