Progettazione, sviluppo e implementazione di nuove tecniche di microscopia a scansione di sonda (SPM) in ambiente di alto vuoto

Solver High Vacuum - configurazione di un versatile microscopio a scansione di sonda (SPM)

Cristiano Albonetti
2020

Abstract

Progettazione, sviluppo e implementazione di nuove tecniche di microscopia a scansione di sonda (SPM) in ambiente di alto vuoto
2020
Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati - ISMN
microscopia a scansione di sonda
alto-vuoto
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/385275
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