Si riportano i risultati di caratterizzazioni morfologiche eseguite mediante Microscopia Elettronica a Scansione (SEM), su substrati polimerici con deposito di cromo. Sono stati forniti ed analizzati due campioni: un substrato di ABS sul quale è depositato un film di Cromo ricoperto dalla successione di un deposito di polimero siliconico organico e di un deposito di polimero siliconico inorganico; un substrato di ABS sul quale è positato un film di Cr ricoperto dalla successione di un deposito di polimero siliconico inorganico e di deposito di polimero siliconico organico. E' stata analizzata la morfologia superificale dei campioni mediante immagini Hi-resolution SEM inn top-view ed è stata stimata da morfologia in spessore e lo spessore dei campioni mediante immagini in sezione ottenute fratturando i campioni in azoto liquido.
Analisi morfologiche SEM di campioni di film di Cromo depositati su substrato di ABS nell'ambito del Contratto AIP2017_1
Silvia Maria Pietralunga
2017
Abstract
Si riportano i risultati di caratterizzazioni morfologiche eseguite mediante Microscopia Elettronica a Scansione (SEM), su substrati polimerici con deposito di cromo. Sono stati forniti ed analizzati due campioni: un substrato di ABS sul quale è depositato un film di Cromo ricoperto dalla successione di un deposito di polimero siliconico organico e di un deposito di polimero siliconico inorganico; un substrato di ABS sul quale è positato un film di Cr ricoperto dalla successione di un deposito di polimero siliconico inorganico e di deposito di polimero siliconico organico. E' stata analizzata la morfologia superificale dei campioni mediante immagini Hi-resolution SEM inn top-view ed è stata stimata da morfologia in spessore e lo spessore dei campioni mediante immagini in sezione ottenute fratturando i campioni in azoto liquido.I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.