In questa nota si presentano i risultati delle analisi eseguite al microscopio elettronico su due diversi campioni di rame con ricoprimento in allumina realizzati come prototipi per la scocca di RFX-mod2.
Analisi al microscopio elettronico (SEM) di campioni in rame con ricoprimento in allumina, prototipi per la scocca di RFX-mod2
Zuin M
2020
Abstract
In questa nota si presentano i risultati delle analisi eseguite al microscopio elettronico su due diversi campioni di rame con ricoprimento in allumina realizzati come prototipi per la scocca di RFX-mod2.File in questo prodotto:
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