Test di una macchina sequenziale inserita in una struttura composta di macchine sequenziali interconnesse

Nella letteratura viene generalmente trattato il problema di ricavare sequenze di test per circuiti combinatori e sequenziali operando sugli ingressi e sulle uscite dei circuiti stessi. Questi metodi sono applicabili in modo efficiente solo se i circuiti hanno dimensioni relativamente piccole. Quando invece le dimensioni del circuito divengono per esempio quelle di una C.P.U. di un sistema di calcolo tali metodi risultano inapplicabili. In questo caso si può pensare di sfruttare il fatto che in generale tali strutture complesse sono costituite da circuiti più semplici collegati fra loro. Lo scopo del lavoro è quello di esaminare come sia possibile tener conto di questo fatto per tentare un approccio al problema del test di una struttura complessa senza dover ricorrere alla sconnessione dei circuiti componenti.