Obiettivo di questo lavoro è studiare e quantificare sperimentalmente le deviazioni analitiche che il P-XRF integrato nel sistema GEOTEK può avere in funzione delle modalità di test delle caratteristiche fisico chimiche dei materiali geologici analizzati durante acquisizioni ad alta risoluzione (passo ≤ 1cm). A tale scopo, diversi fattori sono stati presi in considerazione: tempo di incidenza del fascio di raggi X, contenuto d’acqua, contenuto di materia organica, omogeneità granulometrica, tipo e spessore della pellicola. Le tecniche XRF convenzionali (con ICP) eludono questi problemi utilizzando materiale secco, in polvere e campioni omogeneizzati, che vengono compressi e polverizzare creando una superficie perfettamente piana, omogenea e riproducibile (Potts 1987). I risultati dalle tecniche XRF convenzionali sono da considerarsi, superiori a quelli derivanti Venezia Tesa 104 - Arsenale, Castello 2737/F 30122 - Venezia, IT +39 041 2407911 protocollo.ismar@pec.cnr.it www.ismar.cnr.it Bologna Area della Ricerca di Bologna – Via P. Gobetti 101 40129 - Bologna, IT +39 051 639 8891 Lerici Forte Santa Teresa, Pozzuolo di Lerici 19032 - La Spezia, IT +39 0187 1788900 Napoli Calata Porta Di Massa Porto Di Napoli snc 80133 - Napoli, IT +39 081 5423802 Roma Area della Ricerca di Roma 2 - Tor Vergata Via del Fosso del Cavaliere 100 00133 - Roma, IT +39 06 45488634 Trieste Area Science Park Basovizza - Edificio Q2 Strada Statale 14, km 163.5 34149 - Trieste, IT +39 040 3756872 Partita IVA 02118311006 - C.F. 80054330586 dalle misurazioni della scansione di carote con P-XRF. Tuttavia, la velocità, il costo e l'elevata risoluzione di campionamento fanno risultare la scansione P-XRF uno strumento tecnico interessante per screening di aree inquinate sia a terra che a mare, per la paleoceanografia comparativa, la valutazione dei rischi a mare e studi sedimentologici, a condizione che le deviazioni analitiche possano essere limitate o quantificate.
Misure XRF ad alta risoluzione effettuate con P-XRF integrato nel sistema MSCLGEOTEK, limiti ed applicazioni
Antonio Mercadante
;Michele Iavarone
;Marina Iorio
;Flavia Molisso
;Valerio Funari
;Antimo Angelino
;Monica Capodanno
2024
Abstract
Obiettivo di questo lavoro è studiare e quantificare sperimentalmente le deviazioni analitiche che il P-XRF integrato nel sistema GEOTEK può avere in funzione delle modalità di test delle caratteristiche fisico chimiche dei materiali geologici analizzati durante acquisizioni ad alta risoluzione (passo ≤ 1cm). A tale scopo, diversi fattori sono stati presi in considerazione: tempo di incidenza del fascio di raggi X, contenuto d’acqua, contenuto di materia organica, omogeneità granulometrica, tipo e spessore della pellicola. Le tecniche XRF convenzionali (con ICP) eludono questi problemi utilizzando materiale secco, in polvere e campioni omogeneizzati, che vengono compressi e polverizzare creando una superficie perfettamente piana, omogenea e riproducibile (Potts 1987). I risultati dalle tecniche XRF convenzionali sono da considerarsi, superiori a quelli derivanti Venezia Tesa 104 - Arsenale, Castello 2737/F 30122 - Venezia, IT +39 041 2407911 protocollo.ismar@pec.cnr.it www.ismar.cnr.it Bologna Area della Ricerca di Bologna – Via P. Gobetti 101 40129 - Bologna, IT +39 051 639 8891 Lerici Forte Santa Teresa, Pozzuolo di Lerici 19032 - La Spezia, IT +39 0187 1788900 Napoli Calata Porta Di Massa Porto Di Napoli snc 80133 - Napoli, IT +39 081 5423802 Roma Area della Ricerca di Roma 2 - Tor Vergata Via del Fosso del Cavaliere 100 00133 - Roma, IT +39 06 45488634 Trieste Area Science Park Basovizza - Edificio Q2 Strada Statale 14, km 163.5 34149 - Trieste, IT +39 040 3756872 Partita IVA 02118311006 - C.F. 80054330586 dalle misurazioni della scansione di carote con P-XRF. Tuttavia, la velocità, il costo e l'elevata risoluzione di campionamento fanno risultare la scansione P-XRF uno strumento tecnico interessante per screening di aree inquinate sia a terra che a mare, per la paleoceanografia comparativa, la valutazione dei rischi a mare e studi sedimentologici, a condizione che le deviazioni analitiche possano essere limitate o quantificate.File | Dimensione | Formato | |
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