This PhD thesis is focused on the study and characterization of the defectiveness observed in the interface between the substrate and the oxide of modern SiC power MOSFETs

STUDY AND CHARACTERIZATION OF MODERN 4H-SiC POWER MOSFETs / Consentino, Giuseppe. - (2021).

STUDY AND CHARACTERIZATION OF MODERN 4H-SiC POWER MOSFETs

Giuseppe Consentino
2021

Abstract

This PhD thesis is focused on the study and characterization of the defectiveness observed in the interface between the substrate and the oxide of modern SiC power MOSFETs
2021
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
33
Corso 1
Power MOSFETs, SiC, Simulation, Characterization
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/523385
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