CNR Institutional Research Information System

Thickness independent measurements of thin samples permittivity in X-band employing waveguides and Genetic Algorithms and a review on leaf permittivity models and measurements

R Olmi;C Riminesi
2001
2001
Istituto per la Conservazione e la Valorizzazione dei Beni Culturali - ICVBC - Sede Sesto Fiorentino
Istituto di Fisica Applicata - IFAC
Istituto di Scienze del Patrimonio Culturale - ISPC
08.04 Rapporto tecnico
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/6925
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