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BASCHIERI, PAOLO

BASCHIERI, PAOLO  

Istituto Nazionale di Ottica - INO  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Scanning ion conductance microscopy-morphology and mechanics 1-gen-2018 Tognoni, E; Baschieri, P; Dinelli, F; Ascoli, C; Pellegrino, M
Characterization of tip size and geometry of the pipettes used in scanning ion conductance microscopy 1-gen-2016 Tognoni, Elisabetta; Baschieri, Paolo; Ascoli, Cesare; Pellegrini, Monica; Pellegrino, Mario
Processing and structural properties of random oriented lead lanthanum zirconate titanate thin films 1-gen-2015 Araujo, E. B.; Nahime, B. O.; Melo, M.; Dinelli, F.; Tantussi, F.; Baschieri, P.; Fuso, F.; Allegrini, M.
Scanning ion conductance microscopy (SICM): from measuring cell mechanical properties to guiding neuron growth 1-gen-2013 Pellegrino, Mario; Orsini, Paolo; Pellegrini, Monica; Tognoni, Elisabetta; Ascoli, Cesare; Baschieri, Paolo; Dinelli, Franco
Use of polystyrene brushes to investigate the role of interface between substrates and thin homogeneous films 1-gen-2013 Dinelli, Franco; Sgrilli, Tommaso; Ricci, Andrea; Baschieri, Paolo; Pingue, Pasqualantonio; Puttaswamy, Manjunath; Kingshott, Peter
Integrated SICM-AFM-optical microscope to measure forces due to hydrostatic pressure applied to a pipette 1-gen-2012 Pellegrino M. ; Orsini P. ; Pellegrini M. ; Baschieri P. ; Dinelli F. ; Petracchi D. ; Tognoni E. ; Ascoli C.
Measuring the elastic properties of living cells through the analysis of current-displacement curves in scanning ion conductance microscopy 1-gen-2012 Pellegrino, Mario; Pellegrini, Monica; Orsini, Paolo; Tognoni, Elisabetta; Ascoli, Cesare; Baschieri, Paolo; Dinelli, Franco
Ordered rippling of polymer surfaces by nanolithography: influence of scan pattern and boundary effects 1-gen-2012 Simone Napolitano; Mario D'Acunto; Paolo Baschieri; Enrico Gnecco; Pasqualantonio Pingue
Dentro il microscopio: ottica, immagini, tecnologie. Mostra didattico-divulgativa sull'ottica e la storia della microscopia. L'organizzazione: prima, durante e dopo 1-gen-2011 Andronico, Patrizia; Baschieri, Paolo; Jacchetti, Emanuela; Tognoni, Elisabetta
Fiber-top atomic force microscope probe with optical near-field detection capabilities 1-gen-2011 Tiribilli, B.; Margheri, G.; Baschieri, P.; Menozzi, C.; Chavan, D.; Iannuzzi, D.
Nanoscale Viscoelastic Behavior of the Surface of Thick Polystyrene Films as a Function of Temperature 1-gen-2011 Dinelli, F; Ricci, A; Sgrilli, T; Baschieri, P; Pingue, P; Puttaswamy, M; Kingshott, P
Strategies to measure the Young modulus of cells by means of Scanning Ion Conductance Microscopy 1-gen-2011 Tognoni, E; Pellegrino, M; Orsini, P; Pellegrini, M; Baschieri, P; Dinelli, F; Petracchi, D; Ascoli, C
Use of scanning ion conductance microscopy to map elastic properties of cell membranes 1-gen-2011 Pellegrino Mario ; Orsini Paolo ; Pellegrini Monica ; Tognoni Elisabetta ; Baschieri Paolo ; Dinelli Franco ; Petracchi Donatella ; Ascoli Cesare
Use of scanning ion conductance microscopy to map elastic properties of cell membranes 1-gen-2011 Pellegrino, M; Orsini, P; Pellegrini, M; Tognoni, E; Baschieri, P; Dinelli, F; Petracchi, D; Ascoli, C
Weak hydrostatic forces in far-scanning ion conductance microscopy used to guide neuronal growth cones 1-gen-2011 Pellegrino, Mario ; Orsini Paolo ; Pellegrini Monica ; Baschieri Paolo ; Dinelli Franco ; Petracchi Donatella ; Tognoni Elisabetta ; Ascoli Cesare
Interazione sonda-campione nella microscopia a scansione di conduttanza ionica 1-gen-2010 Tognoni E.; Pellegrino M.; Orsini P.; Pellegrini M.; Baschieri P.; Dinelli F.; Petracchi D.; Ascoli C.
Interazione sonda-campione nella microscopia a scansione di conduttanza ionica utilizzata per la guida dei coni di crescita neuronali 1-gen-2010 Pellegrini, M; Orsini, P; Pellegrini, M; Baschieri, P; Dinelli, F; Petracchi, D; Tognoni, E; Ascoli, C
Scanning probe nanoimprint lithography 1-gen-2010 Dinelli F.; Menozzi C.; Baschieri P.; Facci P.; Pingue P.
Una sonda ibrida AFM/SNOM integrata in fibra ottica 1-gen-2010 Tiribilli B.; Margheri G.; Baschieri P.; Ascoli C.; Menozzi C.; Chavan D.; Iannuzzi D.
An open source/real-time atomic force microscope architecture to perform customizable force spectroscopy experiments 1-gen-2009 Materassi, Donatello; Baschieri, Paolo; Tiribilli, Bruno; Zuccheri, Giampaolo; Samor, Bruno