BASCHIERI, PAOLO
BASCHIERI, PAOLO
Istituto Nazionale di Ottica - INO
Mostra
records
Risultati 1 - 1 di 1 (tempo di esecuzione: 0.002 secondi).
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Scanning ion conductance microscopy-morphology and mechanics | 1-gen-2018 | Tognoni, E; Baschieri, P; Dinelli, F; Ascoli, C; Pellegrino, M |