BASCHIERI, PAOLO
BASCHIERI, PAOLO
Istituto Nazionale di Ottica - INO - Sede Secondaria di Pisa
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Scanning ion conductance microscopy-morphology and mechanics | 1-gen-2018 | Tognoni, E; Baschieri, P; Dinelli, F; Ascoli, C; Pellegrino, M |