DI FRANCO, SALVATORE
DI FRANCO, SALVATORE
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Comparing post-deposition and post-metallization annealing treatments on Al2O3/GaN capacitors for different metal gates
2024 Schiliro', E.; Greco, G.; Fiorenza, P.; Panasci, S. E.; Di Franco, S.; Cordier, Y.; Frayssinet, E.; Lo Nigro, R.; Giannazzo, F.; Roccaforte, F.
Improvement of Ti/Al/Ti Ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures by insertion of a thin carbon interfacial layer
2024 Greco, G.; Di Franco, S.; Lo Nigro, R.; Bongiorno, C.; Spera, M.; Badala, P.; Iucolano, F.; Roccaforte, F.
Al2O3 Layers Grown by Atomic Layer Deposition as Gate Insulator in 3C-SiC MOS Devices
2023 Schiliro, Emanuela; Fiorenza, Patrick; Lo Nigro, Raffaella; Galizia, Bruno; Greco, Giuseppe; Di Franco, Salvatore; Bongiorno, Corrado; La Via, Francesco; Giannazzo, Filippo; Roccaforte, Fabrizio
Current transport in Ni Schottky barrier on GaN epilayer grown on free standing substrates
2023 Greco, G.; Fiorenza, P.; Schiliro, E.; Bongiorno, C.; Di Franco, S.; Coulon, P. -M.; Frayssinet, E.; Bartoli, F.; Giannazzo, F.; Alquier, D.; Cordier, Y.; Roccaforte, F.
Exploring UV-Laser Effects on Al-Implanted 4H-SiC
2023 Vivona, M.; Giannazzo, F.; Bellocchi, G.; Panasci, S. E.; Agnello, S.; Badalà, P.; Bassi, A.; Bongiorno, C.; Di Franco, S.; Rascunà, S.; Roccaforte, F.
A Low Temperature Growth of Cu2O Thin Films as Hole Transporting Material for Perovskite Solar Cells
2022 Pellegrino, Anna L.; Lo Presti, Francesca; Smecca, Emanuele; Valastro, Salvatore; Greco, Giuseppe; Di Franco, Salvatore; Roccaforte, Fabrizio; Alberti, Alessandra; Malandrino, Graziella
Effects of Excimer Laser Irradiation on the Morphological, Structural, and Electrical Properties of Aluminum-Implanted Silicon Carbide (4H-SiC)
2022 Vivona, M.; Giannazzo, F.; Bellocchi, G.; Panasci, S. E.; Agnello, S.; Badala, P.; Bassi, A.; Bongiorno, C.; Di Franco, S.; Rascuna, S.; Roccaforte, F.
Growth, Electronic and Electrical Characterization of Ge-Rich Ge-Sb-Te Alloy
2022 Díaz Fattorini, A.; López García, C. Chèze.; Petrucci, C.; Bertelli, M.; Righi Riva, F.; Prili, S.; Privitera, S. M. S.; Buscema, M.; Sciuto, A.; Di Franco, S.; D'Arrigo, G.; Longo, M.; De Simone, S.; Mussi, V.; Placidi, E.; Cyrille, M. -C.; Tran, N. -P.; Calarco, R.; Arciprete, F.
Multiscale Investigation of the Structural, Electrical and Photoluminescence Properties of MoS2 Obtained by MoO3 Sulfurization
2022 Panasci, S. E.; Koos, A.; Schiliro', E.; Di Franco, S.; Greco, G.; Fiorenza, P.; Roccaforte, F.; Agnello, S.; Cannas, M.; Gelardi, F. M.; Sulyok, A.; Nemeth, M.; Pecz, B.; Giannazzo, F.
Ni/Heavily-Doped 4H-SiC Schottky Contacts
2022 Vivona, M.; Greco, G.; Di Franco, S.; Fiorenza, P.; Giannazzo, F.; La Magna, A.; Roccaforte, F.
Towards vertical Schottky diodes on bulk cubic silicon carbide (3C-SiC)
2022 Roccaforte, F.; Greco, G.; Fiorenza, P.; Di Franco, S.; Giannazzo, F.; La Via, F.; Zielinski, M.; Mank, H.; Jokubavicius, V.; Yakimova, R.
Correlation between Defects and Electrical Performances of Ion-Irradiated 4H-SiC p–n Junctions
2021 Pellegrino, Domenico; Calcagno, Lucia; Zimbone, Massimo; DI FRANCO, Salvatore; Sciuto, Antonella
Electrical properties of inhomogeneous tungsten carbide Schottky barrier on 4H-SiC
2021 Vivona, M; Greco, G; Bellocchi, G; Zumbo, L; Di Franco, S; Saggio, M; Rascuna, S; Roccaforte, F
Highly homogeneous current transport in ultra-thin aluminum nitride (AlN) epitaxial films on gallium nitride (GaN) deposited by plasma enhanced atomic layer deposition
2021 Schiliro', E.; Giannazzo, F.; Di Franco, S.; Greco, G.; Fiorenza, P.; Roccaforte, F.; Prystawko, P.; Kruszewski, P.; Leszczynski, M.; Cora, I.; Pecz, B.; Fogarassy, Z.; Nigro, R. L.
Radiation Hardness of 4H-SiC P-N Junction UV Photo-Detector
2021 Sciuto, Antonella; Calcagno, Lucia; Di Franco, Salvatore; Pellegrino, Domenico; Selgi, Lorenzo; D'Arrigo, Giuseppe
Comparison between thermal and plasma enhanced atomic layer deposition processes for the growth of HfO2 dielectric layers
2020 Lo Nigro, Raffaella; Schiliro', Emanuela; Mannino, Giovanni; Di Franco, Salvatore; Roccaforte, Fabrizio
Correlating electron trapping and structural defects in Al2O3 thin films deposited by plasma enhanced atomic layer deposition
2020 Schiliro', Emanuela; Fiorenza, Patrick; Bongiorno, Corrado; Spinella, ROSARIO CORRADO; DI FRANCO, Salvatore; Greco, Giuseppe; LO NIGRO, Raffaella; Roccaforte, Fabrizio
Current transport mechanisms in au-free metallizations for cmos compatible gan hemt technology
2020 Roccaforte, F.; Spera, M.; Di Franco, S.; Lo Nigro, R.; Fiorenza, P.; Giannazzo, F.; Iucolano, F.; Greco, G.
Impact of Stacking Faults and Domain Boundaries on the Electronic Transport in Cubic Silicon Carbide Probed by Conductive Atomic Force Microscopy
2020 Giannazzo, Filippo; Greco, Giuseppe; DI FRANCO, Salvatore; Fiorenza, Patrick; Deretzis, Ioannis; LA MAGNA, Antonino; Bongiorno, Corrado; Zimbone, Massimo; LA VIA, Francesco; Zielinski, Marcin; Roccaforte, Fabrizio
Thermal annealing effect on electrical and structural properties of Tungsten Carbide Schottky contacts on AlGaN/GaN heterostructures
2020 Greco, G; Di Franco, S; Bongiorno, C; Grzanka, E; Leszczynski, M; Giannazzo, F; Roccaforte, F
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Comparing post-deposition and post-metallization annealing treatments on Al2O3/GaN capacitors for different metal gates | 1-gen-2024 | Schiliro', E.; Greco, G.; Fiorenza, P.; Panasci, S. E.; Di Franco, S.; Cordier, Y.; Frayssinet, E.; Lo Nigro, R.; Giannazzo, F.; Roccaforte, F. | |
| Improvement of Ti/Al/Ti Ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures by insertion of a thin carbon interfacial layer | 1-gen-2024 | Greco, G.; Di Franco, S.; Lo Nigro, R.; Bongiorno, C.; Spera, M.; Badala, P.; Iucolano, F.; Roccaforte, F. | |
| Al2O3 Layers Grown by Atomic Layer Deposition as Gate Insulator in 3C-SiC MOS Devices | 1-gen-2023 | Schiliro, Emanuela; Fiorenza, Patrick; Lo Nigro, Raffaella; Galizia, Bruno; Greco, Giuseppe; Di Franco, Salvatore; Bongiorno, Corrado; La Via, Francesco; Giannazzo, Filippo; Roccaforte, Fabrizio | |
| Current transport in Ni Schottky barrier on GaN epilayer grown on free standing substrates | 1-gen-2023 | Greco, G.; Fiorenza, P.; Schiliro, E.; Bongiorno, C.; Di Franco, S.; Coulon, P. -M.; Frayssinet, E.; Bartoli, F.; Giannazzo, F.; Alquier, D.; Cordier, Y.; Roccaforte, F. | |
| Exploring UV-Laser Effects on Al-Implanted 4H-SiC | 1-gen-2023 | Vivona, M.; Giannazzo, F.; Bellocchi, G.; Panasci, S. E.; Agnello, S.; Badalà, P.; Bassi, A.; Bongiorno, C.; Di Franco, S.; Rascunà, S.; Roccaforte, F. | |
| A Low Temperature Growth of Cu2O Thin Films as Hole Transporting Material for Perovskite Solar Cells | 1-gen-2022 | Pellegrino, Anna L.; Lo Presti, Francesca; Smecca, Emanuele; Valastro, Salvatore; Greco, Giuseppe; Di Franco, Salvatore; Roccaforte, Fabrizio; Alberti, Alessandra; Malandrino, Graziella | |
| Effects of Excimer Laser Irradiation on the Morphological, Structural, and Electrical Properties of Aluminum-Implanted Silicon Carbide (4H-SiC) | 1-gen-2022 | Vivona, M.; Giannazzo, F.; Bellocchi, G.; Panasci, S. E.; Agnello, S.; Badala, P.; Bassi, A.; Bongiorno, C.; Di Franco, S.; Rascuna, S.; Roccaforte, F. | |
| Growth, Electronic and Electrical Characterization of Ge-Rich Ge-Sb-Te Alloy | 1-gen-2022 | Díaz Fattorini, A.; López García, C. Chèze.; Petrucci, C.; Bertelli, M.; Righi Riva, F.; Prili, S.; Privitera, S. M. S.; Buscema, M.; Sciuto, A.; Di Franco, S.; D'Arrigo, G.; Longo, M.; De Simone, S.; Mussi, V.; Placidi, E.; Cyrille, M. -C.; Tran, N. -P.; Calarco, R.; Arciprete, F. | |
| Multiscale Investigation of the Structural, Electrical and Photoluminescence Properties of MoS2 Obtained by MoO3 Sulfurization | 1-gen-2022 | Panasci, S. E.; Koos, A.; Schiliro', E.; Di Franco, S.; Greco, G.; Fiorenza, P.; Roccaforte, F.; Agnello, S.; Cannas, M.; Gelardi, F. M.; Sulyok, A.; Nemeth, M.; Pecz, B.; Giannazzo, F. | |
| Ni/Heavily-Doped 4H-SiC Schottky Contacts | 1-gen-2022 | Vivona, M.; Greco, G.; Di Franco, S.; Fiorenza, P.; Giannazzo, F.; La Magna, A.; Roccaforte, F. | |
| Towards vertical Schottky diodes on bulk cubic silicon carbide (3C-SiC) | 1-gen-2022 | Roccaforte, F.; Greco, G.; Fiorenza, P.; Di Franco, S.; Giannazzo, F.; La Via, F.; Zielinski, M.; Mank, H.; Jokubavicius, V.; Yakimova, R. | |
| Correlation between Defects and Electrical Performances of Ion-Irradiated 4H-SiC p–n Junctions | 1-gen-2021 | Pellegrino, Domenico; Calcagno, Lucia; Zimbone, Massimo; DI FRANCO, Salvatore; Sciuto, Antonella | |
| Electrical properties of inhomogeneous tungsten carbide Schottky barrier on 4H-SiC | 1-gen-2021 | Vivona, M; Greco, G; Bellocchi, G; Zumbo, L; Di Franco, S; Saggio, M; Rascuna, S; Roccaforte, F | |
| Highly homogeneous current transport in ultra-thin aluminum nitride (AlN) epitaxial films on gallium nitride (GaN) deposited by plasma enhanced atomic layer deposition | 1-gen-2021 | Schiliro', E.; Giannazzo, F.; Di Franco, S.; Greco, G.; Fiorenza, P.; Roccaforte, F.; Prystawko, P.; Kruszewski, P.; Leszczynski, M.; Cora, I.; Pecz, B.; Fogarassy, Z.; Nigro, R. L. | |
| Radiation Hardness of 4H-SiC P-N Junction UV Photo-Detector | 1-gen-2021 | Sciuto, Antonella; Calcagno, Lucia; Di Franco, Salvatore; Pellegrino, Domenico; Selgi, Lorenzo; D'Arrigo, Giuseppe | |
| Comparison between thermal and plasma enhanced atomic layer deposition processes for the growth of HfO2 dielectric layers | 1-gen-2020 | Lo Nigro, Raffaella; Schiliro', Emanuela; Mannino, Giovanni; Di Franco, Salvatore; Roccaforte, Fabrizio | |
| Correlating electron trapping and structural defects in Al2O3 thin films deposited by plasma enhanced atomic layer deposition | 1-gen-2020 | Schiliro', Emanuela; Fiorenza, Patrick; Bongiorno, Corrado; Spinella, ROSARIO CORRADO; DI FRANCO, Salvatore; Greco, Giuseppe; LO NIGRO, Raffaella; Roccaforte, Fabrizio | |
| Current transport mechanisms in au-free metallizations for cmos compatible gan hemt technology | 1-gen-2020 | Roccaforte, F.; Spera, M.; Di Franco, S.; Lo Nigro, R.; Fiorenza, P.; Giannazzo, F.; Iucolano, F.; Greco, G. | |
| Impact of Stacking Faults and Domain Boundaries on the Electronic Transport in Cubic Silicon Carbide Probed by Conductive Atomic Force Microscopy | 1-gen-2020 | Giannazzo, Filippo; Greco, Giuseppe; DI FRANCO, Salvatore; Fiorenza, Patrick; Deretzis, Ioannis; LA MAGNA, Antonino; Bongiorno, Corrado; Zimbone, Massimo; LA VIA, Francesco; Zielinski, Marcin; Roccaforte, Fabrizio | |
| Thermal annealing effect on electrical and structural properties of Tungsten Carbide Schottky contacts on AlGaN/GaN heterostructures | 1-gen-2020 | Greco, G; Di Franco, S; Bongiorno, C; Grzanka, E; Leszczynski, M; Giannazzo, F; Roccaforte, F |